SEMTO是一款采用 HDCompozite™ 专利技术的非接触式3D形貌测量系统，将高分辨率2D成像与高性能的多种光学模式结合，包括彩色共聚焦、干涉测量及激光三角测量传感器。这使系统能够测量各种物品：包括不同透光度、纹理、反射率，以及从纳米级到毫米级的台阶高度。SEMTO设备能够集成多种类型的装载或卸载设备，以实现自动化高级测量及检测应用，非常适合用于检测引线、芯片及组件的轮廓。欢迎联系我们以预约现场演示！发送邮件至sales@idealvision-int.com或拨打+604-6118576，亲自体验SEMTO的卓越性能。